如何测量平面度 - 技术文章

有多种方法可以测量表面的平面度。在平面研磨领域,最常用的方法是使用单色钠光源光学平晶。这种方法可以以经济的方式提供极高精度的测量,比大多数三坐标测量机的精度更高。

什么是光带?

光带是由艾萨克·牛顿于1717年首次研究发现的干涉图样,是由光在两个表面之间的反射产生的。

使用单色光源时,可以利用这一现象来计算组件的平面度,但组件的表面必须具有反射性才能显示光带。光带由明亮和暗的条纹组成,这些条纹对应于单色光的波长。在钠光源的情况下,其波长为589nm。在检查部件平面度时,只计算暗条纹,由于这是总条纹的一半,每条暗条纹等于294nm或0.00029mm。

钻石研磨工艺非常适合产生可反射的表面,经过研磨操作后可以直接使用此方法来测量平面度

平面度计算器

填写以下字段以了解达到所需平面度所需的测量读数(单位为毫米)。点击此处查看从英寸到毫米的研磨板直径转换表。

研磨板直径 mm 381 508 610 914 1218 1422 1828 2132 3048
in 15 20 24 36 48 56 72 84 120

部件直径/最长长度 (mm)

所需平面度 (mm)

半径

板直径 (mm)

计算

直径上的高度差 (mm)

平面度测量读数 (mm)

显示平整度精度的典型光带图案

表面几何形状 1 光带
0.00029mm
2 光带
0.00058mm
3 光带
0.00087mm
9 光带
0.00261mm

凸面或凹面

表面平行于平面
对称图案
光学平面凸面或凹面 凸面或凹面

凸面

凹曲面带将向相反方向弯曲
非对称图案
光学平面凸面 凸面

圆柱形

凸面或凹面
对称图案
光学平面圆柱形 圆柱形

鞍形

对称图案
光学平面鞍形 鞍形

使用光学平板测量平整度

首先用镜头纸或柔软的无绒布清洁组件和光学平板的表面。两者必须绝对清洁。小心地将光学平板放置在组件的顶部,勿滑动。当光学平板和组件结合时,通过平板会出现线条。调整以获得如图所示的线条图案。这些线条是干涉条纹或带,是组件表面相对于光学平板的高低指示。

获得线条图案后,您可以开始解释它以测量组件的表面。每条条纹的宽度对应于组件和光学平板之间的距离。通常,较宽的条纹表示更大的距离,而较窄的条纹表示较小的距离。

要计算表面偏差量,可以使用一个考虑到光波长、条纹之间的距离和材料折射率的公式。通过这些信息,您可以高度精确地确定组件的平整度。光学平板广泛应用于精密部件(如光学镜片和半导体晶圆)的制造和测试。使用光学平板测量表面平整度,制造商可以确保产品符合严格的质量标准,并在预定应用中达到最佳性能。

如何读取光带

显示完美平整度的光带读取

完美平整度

研磨板平整度

凸面

环形图案向手指压力方向移动。如果工件是凸面的,则研磨板是凹面的。

凸面平整度

研磨板凹面

控制环必须移动到板的外侧以纠正此情况

凹面

环形图案远离手指压力方向移动。如果工件是凹面的,则研磨板是凸面的。

凹面平整度

研磨板凸面

控制环必须移到板的内侧以纠正此情况

平行的直线带,而不是光带的宽度,表示平整度。

平整度与平行度的测量

虽然平整度和平行度相关,但它们并不是同一个概念。平整度衡量的是单个表面平整光滑的程度,而平行度衡量的是两个表面彼此对齐的程度。换句话说,平整度是一个单独的属性,而平行度是一个比较属性。此外,平整度通常使用平面板和指示表来测量,而平行度通常使用平面板和高度规或指示表来测量。

平整度指的是一个表面完全平整光滑的程度。平整的表面没有高点或低点,完全均匀。平整度通常使用平面板进行测量,平面板是一个大而平的花岗岩或铸铁板。平面板作为参考表面,用来测量零件的平整度。为了测量平整度,被测零件被放置在平面板上,使用指示表测量零件与平面板之间在不同点的距离。测量结果会在零件表面的不同位置读取,以确保零件是均匀平整的。然后,通过比较每个测量点的读数来计算平整度,确定与完美平整度的偏差。

平行度指的是两个表面彼此完全平行的程度。换句话说,平行度衡量的是两个表面对齐的紧密程度。平行度也通常使用平面板和高度规或指示表来测量。为了测量平行度,将两个零件放置在平面板上,其中一个零件放在另一个零件的上面。然后,使用高度规或指示表测量这两个零件在它们表面不同点之间的距离。通过在多个位置读取数据,确保两个表面是均匀平行的。然后,通过比较每个测量点的读数来计算平行度,确定与完美平行度的偏差。

表面光洁度图表

表面是通过多种材料去除过程产生的。最终的几何形状可以最好地看作分为三个部分——粗糙度、波纹度和形状。

基本参数

flatness parameters

参数 - 这里展示了各种参数Ra和Rt。可以看到,中线是将区域分开的一条线,使得:A1 + A3 + ............ A7 = A2 + A4 + ............ A8。两种最常见的表面光洁度测量参数是RaRt,它们的定义如下:

Ra 是全球公认的最常用的粗糙度国际参数。它是粗糙度轮廓偏离平均线的算术平均值。

Rt 是测量长度内,轮廓的最大峰谷高度。测量结果通常以微米为单位,1微米 = 约40微英寸。

Ra和Rt的示例

example of ra and rt

绘图中常见的表面光洁度或纹理描述:

typical surface flatness

符号A 如何指定Ra微米的最大粗糙度值。
符号B 如何指定最大和最小粗糙度值。
符号C 如何指定最大粗糙度和加工工艺。

Kemet转换表

英制到公制
    毫米 (mm) 微米 (μm) 埃 (Å)
1 英寸 (1.00”) = 25.4 25,400 254,000,000.
1 千分之一 (0.001”) = 0.0254 25.4 254,000
1 微英寸 (μin) = 0.0000254 0.0254 254
公制到英制
    英寸 千分之一 微英寸
1 毫米 (mm) = 0.03937 39.37 39,370
1 微米 (μm) = 0.00003937 0.03937 39.37
1 埃 (Å) = 0.000000003937 0.000003937 0.003937

测量平整度的设备

Kemet光学平板

optical flat

由石英制成,Kemet光学平板有单面和双面,1/4光带或1/10光带精度可选。标准尺寸从25mm到300mm直径。

Kemet单色光源

monochromatic light

与Kemet光学平板一起使用时,可产生清晰的平整度读数。该紧凑设计的光源便于携带,并使用长寿命的钠光源。附带平整度读数解释图表。

Kemet平整度量规

flatness gauge

Kemet平整度量规用于监控研磨板的平整度,并指示板在给定零件尺寸下将产生的平整度。

Kemet awarding bodies

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